SJ 50033.139-1998 半导体光电子器件GF4111型绿色发光二极管详细规范
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ID： |
377436E4FEA74885BD7253129BFCF822 |
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文件大小(MB)： |
0.46 |
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页数： |
10 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL5980 SJ 50033/139-1998,半导体光电子器件GF4111型,绿色发光二极管详细规范,Semiconductor optodectronic devices Detail specification,for green 岫t- emitting diode for type GF4111,1998 - 03-18 发布1998 - 05 - 0I 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体光电子器件GF4111型,绿色发光二极管详细规范,Semiconductor qitodectronic devices Detail specification,for green light - onitting diode for type GF4111,SJ 50033/139-1998,1范围,1.1 主题内容,本规范规定了军用GF4U1型绿色发光二极管(以下简称器件)的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,1.3.1 器件的等级,按照GJB33《半导体分立器件总规范》的规定,提供的质量保证等级为普军级(GP),和特军级(GT)二级,2引用文件,GB 11499 - 89 半导体分立器件文字符号,GB/T 15651-1995半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分 光电子器件,GJB 33 - 85 半导体分立器件总规范,GJB 128 - 86 半导体分立器件试验方法,SJ 2355 - 83 半导体发光器件测试方法,3要求,3.1 详细要求,各条要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,中华人民共和国电子工业部1998-03-18发布1998 - 05 - 01 实施,SJ 50033/139-1998,器件的设计、结构应按GJB 33中3.5.1、353、3.5.4和3.5.7条及本规范的规定。外,形尺寸应符合本规范图1的规定,3.2.1 管芯材料,管芯材料为磽化傢,3.2.2 引出端识别,引出端识别见图lo,3.2.3 封装形式,器件采用金属魔璃空腔封装,管帽上带有玻璃透镜,见图1,3.2.4 引线长度,可按订货文件规定（见6.2条）提供引线长度不同于本规范图1规定的器件,3.2.5 引线材料和引线镀涂,引线材料为可伐,引线镀金,也记按照订货文件规定（见6.2条）,3.3 最大额定值和主要光电特性,3.3.1 最大额定值（见表1）,表1,【FM VR Pm Ta Tstg,mA mA V mW r,35 200 5 120 -55-100 -55-125,注:1）脉冲宽度0.5ms,占空比レ10,3.3.2 主要光电特性（见表2, Ta = 25（C）,2,SJ 50033/139-1998,单位:mm,寸,符卜,最小值标称值最大值,D 9.0 9.50,0 8.0 8.50,必5.80 6.40,り3 5.08,d 0.40 0.52,h 6.10 6.70,あ0.70 0.85,b 1.10 1.30,L 23,引出端极性:1.正极2.负极,图1外形尺寸,3,SJ 50033/139-1998,表2,名 称符号条件,数值,单位,最小值最大值,发光强度A ルエ20mA, 0 = 0° 5 - med,正向电压% /r = 20mA . 3 V,反向电流/r Vr = 3V - 1,峰值发射波长加ly = 20mA 560 580 nm,光谱辐射带宽協/F = 20mA - 30 nm,半强度角91/2 小 20mA 5 - 0,3.4 标志,每个器件上应有下列标志:,a.器件型号;,b.产品保证等级;,c,承制方商标或代号;,d.检验批识别代码,4质丒保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 筛选（仅对GT级）,筛选的步骤和条件应按GJB 33和本规范表3的规定,4.3 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33和本规范表4、表5和表6的规定,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应包括A组（见表4）、B组（见表5）和C组（见表6）中规定的检验,和试验以及下面的规定,4.4.1 如果制造厂选择下面的方法做试验,应在做相应的B组试验前,指定C组检验中使,用的样品,而且计算C组检验接收或拒收的失效器件数应等于B组检验中指定继续做C组,检验的样品中出现的失效器件数加上C组检验中出现的失效器件数,在做C组检验中的寿命试验时,承制方有权选择全部或部分已经过340h B组寿命试验,的样品再进行660h的寿命试验,以满足C组寿命试验100Oh的要求,4.4.2 C组检验应在初始批时开始进行,然后在连续生产过程中每隔6个月进行ー次,4.4.3 如果订货文件中已作规定（见6.2条），承制方应将质量一致性检验数据连同器件ー,起提供,4.5 检验和试验方法,—4 —,SJ 50033/139-1998,检验和试验方法按表4、表5、表6和表フ的规定,表3筛选的步骤和条件（仅对GT级）,步,骤,检验和试验,GJB 128 劭,号,极限值,軍位,方法条件最小值最大值,1,内部目检,（封帽前）,2073,芯片完整,电极完整,2 高温寿命（不工作） 1032 Tstg=125じ t = 72h,3,热冲击,（温度循环）,1051,除低温为ー55t,循环,20次外,其余按试验条,件B,4 恒定加速度2006,卜方向,加速度 196000m/s2,5 密封（不要求）,6 高温反偏（不适用）,7,中间光电参数测试,正向电压,反向电……
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